製品情報

顕微鏡
画像処理
CAMERA
BOARD
LENS
光源
検査機器
周辺機器
精密軸綱手
 テスタ
 Visualizing
Multifunctional
Thermal Stage
 
 
 
 
 

 顕 微 鏡

TATUKA
測定顕微鏡
Optical
Characterization
System
EDEC LINSY
 IR
MICROSCOPE
 33mm 25M
MICROSCOPE
Wafer Load
測定顕微鏡
 
 
 
 
 
非接触段差測定顕微鏡      
詳しい資料はこちら
 
 鏡体・ブラケット 全ストローク30mm
微動0.1mm
Z 軸測定範囲 10mm
照明系 同軸落射照明
 鏡筒 三眼タイプ
眼幅調整範囲
53mm~72mm
(基準値63 ㎜)
接眼 10 倍接眼
C マウント搭載
直筒タイプ
C マウント搭載タイプ
 使用可能対物レンズ 無限系のニコン製・オリンパス製・ミツトヨ製対物レンズが使用可能  
 結像レンズ  焦点距離200mm と180mm の2タイプから選択 
 フォーカス部  フォーカスナビマーク付き反射照明ユニット搭載
 
 照明部  ライトガイド及びLED 照明装着可能ユニット 
 オプション
 R4(レボルバー)4ヶ穴レボルバー 対物レンズ
(無限系f=180 かf=200 の選択)
ミツトヨ製対物レンズ使用時=AHS-MHA-M03B(対物つなぎ)
ステージ各種
ポールタイプシンプルスタンド
LED 照明かファイバー照明選択可能
インジケーター各種(1μⅿ読みの物)
観察用カメラ各種(推奨品は2/3 インチCCD カメラ) 

  

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